New Approaches to Reliability Qualification of Semiconductor Components under Varying and Progressive Stresses

New Approaches to Reliability Qualification of Semiconductor Components under Varying and Progressive Stresses
建筑史

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￥ 586.25

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作者

Hirler Alexander

出版社

Cuvillier

出版时间

1800年01月01日

装帧

平装

ＩＳＢＮ

9783736975200

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页码

166

开本

8.27 x 5.83 x 0.35

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英文

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